光學(xué)濾光片主要光學(xué)參數(shù)涵蓋有:

濾光片峰值透過率：

濾光片中透過率最高點的數(shù)值。透過率是指濾光坡對目標(biāo)波段范圍的通過能力，用百分比來表示，例如：濾光片峰值透射率T＞90％，是指光通過濾光片后能夠透過的值在90％之上，透射率越大，代表透光能力越好。

濾光片中心波長（CWL）：

濾光片在實際應(yīng)用中所使用的波長，一般我們出貨的時候中間都會在中心波長部分加上個公差值，如人臉識別使用的波段為是940nm,那需求的中心波長就是940nm±5nm濾光片也就是說，公差范圍內(nèi)935nm到945nm范圍內(nèi)的濾光片都可以正常使用。

濾光片半高寬(FWHM)：

帶寬是濾光片的最高透過率的1/2處計算出來的波長,左右波長值相減,得出的數(shù)值是多少。比如說濾光片的峰值透過率是最好是96%,濾光片的1/2就是48%,濾光片數(shù)值48%對應(yīng)的左右波長是945nm和905nm,那半帶寬就是40nm。

濾光片截止范圍：

截止范圍主要是濾光片不通過的光譜區(qū)域波長涵蓋的范圍。

濾光片截止深度(OD值)：

截止深度又指截止的程度也稱為：光密度，截止帶中允許能透過光的最大透過率大小。對不同的應(yīng)用系統(tǒng)對截止深度要求不同，比如對于使用在激發(fā)光熒光的場合，一般要求截止深度在T<0.001%以下，在普通的監(jiān)控識別系統(tǒng)中，截止深度T<0.5%有時已經(jīng)足夠。為簡便起見，經(jīng)常用OD值來表示截止深度。

濾光片入射角度

入射光線和濾光片表面法線之間的夾角。當(dāng)光線正入射時，入射角為0°，有些因為特殊設(shè)計要求的濾光片或者光學(xué)元器件會有特定的入射角度，比如45°入射的光學(xué)反射鏡，這個會根據(jù)具體的要求來定義。

濾光片有效孔徑

光學(xué)元器件在設(shè)計中會考慮在系統(tǒng)中可以充分利用到的物理區(qū)域，通常與濾光片的外觀尺寸相似，同心尺寸略小些一般都可以有效通光孔徑達(dá)到90%以上。

高反（HR）: 光通過濾光片大部分被反射。

高透（HT）: 透過率高，光通過濾光片能量損耗非常小。

濾光片的表面規(guī)格和尺寸參數(shù)

直徑公差

濾光片直徑的公差影響在使用過程中的影響不是很大，主要考慮的是濾光片安裝在設(shè)備上的話，就要考慮直徑公差了。

通常情況下，直徑的公差在（±0.1 mm）稱為一般質(zhì)量，（±0.05 mm）稱為精密質(zhì)量，（±0.01 mm）稱為高質(zhì)量。

如不是要求限定，在大批量工業(yè)化生產(chǎn)中，采用±0.1 mm即可，公差要求越嚴(yán)格，良品率也會相應(yīng)降低，同樣生產(chǎn)成本（報價）也會隨之變高。我司有高精設(shè)備可達(dá)到±0.01 mm精度，具體詳情歡迎來電垂詢400-168-6115！

中心厚度公差

中心厚度是表示濾光片中心部分的厚度。通常情況下，中心厚度的公差在（±0.2mm）稱為一般質(zhì)量，（±0.05mm）稱為精密質(zhì)量，（±0.01mm）稱為高質(zhì)量。

如不是要求限定，在大批量工業(yè)化生產(chǎn)中，采用±0.1 mm即可，公差要求越嚴(yán)格，良品率也會相應(yīng)降低，同樣生產(chǎn)成本（報價）也會隨之變高。

光學(xué)元件（最典型的是透鏡）的中心厚度，測量的是光學(xué)元件中心部分的材料厚度。中心厚度是通過透鏡的機械軸來測量的，該機械軸是作為透鏡外部邊緣之間的軸來定義的。 透鏡中心厚度的變化會影響光學(xué)性 能

表面質(zhì)量

濾光片的表面質(zhì)量，主要其表面會不可避免地有一些劃痕和坑點等缺陷，表面質(zhì)量國內(nèi)最常用的規(guī)格是由MIL-PRF-13830B說明的劃痕和坑點規(guī)格，坑點名稱是通過以微米計的坑點直徑除以10來計算的，通常劃痕坑點規(guī)格在80至50范圍內(nèi)將稱之為標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量；在60至40范圍內(nèi)視為精確質(zhì)量；而在20至10范圍內(nèi)將視為高精度質(zhì)量。

濾光片表面的質(zhì)量用來衡量光學(xué)產(chǎn)品表面特性，并且涵蓋了一些劃痕和坑點等瑕疵。這些濾光片表面的大部分瑕疵純粹是表面上的瑕疵，并不會對系統(tǒng)性能產(chǎn)生很大的影響，雖然，它們可能會使系統(tǒng)通光量出現(xiàn)微小的下滑，使散射光出現(xiàn)更細(xì)微的散射。有些濾光片表面會對這些影響更敏感。特別是高功率激光設(shè)備中表面質(zhì)量不良，增加能量吸收而損壞光學(xué)膜層性能。

表面平面度

表面平面度是測量表面精度的一種，它用于測量反射鏡、窗口片、棱鏡或平光鏡等平面的偏差，平滑度的偏差通常是按波紋值（λ）來測量的，它們是由多個波長的測試源組成，一個條紋對應(yīng)1/2的波長，平滑度為1λ，則代表一般的質(zhì)量級別；平滑度為λ/4，則代表精確的質(zhì)量級別；平滑度為λ/20，則代表高精度的質(zhì)量級別。

表面平面度是一種測量表面精度的規(guī)格類型，它用于測量濾光片、反射鏡、窗口片、棱鏡或平光鏡等平面的偏差。當(dāng)所測試的光學(xué)產(chǎn)品的平面靠著光學(xué)平晶放置時，會出現(xiàn)條紋，其形狀表示所檢測的光學(xué)產(chǎn)品的表面平面度。